基線是氣相色譜儀運(yùn)行中,性能的綜合表現(xiàn),組成儀器的各部分發(fā)生故障、操作條件和外界條件的變化等因素都會反映到基線上,因此可以根據(jù)基線(色譜圖)判斷故障的原因和部位。應(yīng)當(dāng)指出,用此方法分析排除故障,還應(yīng)注意以下幾點(diǎn):
⑴ 基線狀態(tài)是否準(zhǔn)說明儀器有故障是相對而不是絕對的,如基線在高靈敏度時(shí)呈現(xiàn)噪聲很大,而在低靈敏度時(shí)比較好,若分析要求在低靈敏度下可以完成,就可以認(rèn)為儀器是正常的,反之不正常。
⑵ 再此討論的基線(色譜峰)異變,是指按已知色譜分析方法操作時(shí),得到的色譜圖與沒有問題的已知色譜圖比較,出現(xiàn)某些組分峰畸變、“鬼峰”或基線不正常;蛘哒f,對于一個正在使用的色譜分析方法,由于不要求或出于無奈時(shí),有些峰分不開、拖尾或峰型不對稱等并不影響方法的實(shí)施,就不屬于儀器有故障,否則應(yīng)重新修改、審定原來的色譜分析方法。
⑶ 由于使用了來路不明的樣品、不能確保純凈的氣源或沒有經(jīng)過充分老化或評價(jià)過的色譜柱等等而造成的儀器被污染、基線不穩(wěn)、峰分不開和峰拖尾等,純屬誤操作,也不適合使用此方法所列實(shí)例來分析排除故障。
⑷ 另外在使用整機(jī)基線(色譜圖)異常,分析排除故障前最好先做以下三點(diǎn)工作:
① 第一,仔細(xì)核查操作條件,是否與分析方法要求一致;
② 第二,懷疑有了故障色譜圖和所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對照,判斷是否真出了問題,千萬不要盲目檢修儀器;
③ 第三 ,逐項(xiàng)仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài),看是否存在誤操作。
1 儀器基線噪聲大
可能原因
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排除方法
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說明
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1
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儀器在極限(或接近)靈敏度下工作
|
正常
|
不同儀器配用不同檢測器噪聲大小不同
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2
|
數(shù)據(jù)處理工作站量程設(shè)置過小
|
正常
|
∠0.5mV以下時(shí)
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3
|
色譜分析方法允許
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正常
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為尋找定性小組分峰
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4
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記錄儀、積分儀或工作站固有噪聲
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正常
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看能否滿足要求而定
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5
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儀器輸出信號線接觸不良
|
檢查重新連接
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6
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分析要求使儀器從低量程調(diào)到高量程操作時(shí)
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需吹洗一天或更長,時(shí)間視量程變化大小而定
|
長時(shí)間吹洗仍無法穩(wěn)定,要清洗進(jìn)樣器和檢測器及有關(guān)連接件
|
7
|
電源大幅度變化或波動后
|
正在穩(wěn)定過程中
|
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8
|
檢測器被污染
|
清洗
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不同檢測器清洗方法不同
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9
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檢測器供電信號線、極化線損傷或接觸不良
|
檢修或更換
|
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10
|
TCD熱絲氧化損傷后無法修復(fù)
|
更換
|
|
11
|
FID火焰氣流比沒有調(diào)到較佳或火焰偏大
|
重新調(diào)整火焰大小
|
|
12
|
FID體溫度偏低產(chǎn)生了冷凝水
|
升高FID溫度
|
|
13
|
ECD進(jìn)樣量大或樣品較臟之后
|
正在恢復(fù)中
|
|
14
|
FPD光電倍增管老化嚴(yán)重
|
不能滿足要求時(shí)更換
|
|
15
|
NPD氫氣流量過大(或堿珠溫度過高)
|
適當(dāng)減小
|
|
16
|
更換了氣源或凈化器失活
|
核實(shí)更正或更換凈化器
|
檢測器或分析要求不同氣體的純度要求有較大差別
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17
|
鋼瓶氣源壓力低后污染物大量流出
|
更換新氣源
|
|
18
|
儀器內(nèi)設(shè)置的凈化器受污染后的影響
|
活化或更換凈化器
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操作選擇性檢測器(ECD、NPD)更應(yīng)注意
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19
|
氣路系統(tǒng)漏氣
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重新檢漏
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不同檢測器靈敏度不同對氣路密封要求不同
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20
|
離子化檢測器配用微電流放大器故障(含供電電源)
|
檢修
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參考說明書,可單獨(dú)觀察基線噪聲給予檢修
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21
|
FID、NPD等電場電壓波動
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檢修
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22
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采用流失大或沒有老化的注射隔墊
|
更正
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23
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忘記打開隔墊清洗氣路
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打開
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24
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汽化襯管中有注射隔墊碎屑或密封材料碎渣
|
更換
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|
26
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樣品在進(jìn)樣器中被催化分解
|
清洗或更換襯管
|
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27
|
填充柱柱頭多次進(jìn)樣后被嚴(yán)重污染
|
清除或更換新柱
|
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28
|
色譜柱沒有按要求定時(shí)活化再生
|
按要求活化或再生
|
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29
|
色譜柱壽命已到(失效)
|
更換
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再生已無作用時(shí)
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30
|
對氧或某些溶劑敏感的固定相被分解流失
|
消除引起固定相過渡流失的原因
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31
|
環(huán)境因素影響(溫度、壓力、電磁或振動等)
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消除
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32
|
數(shù)據(jù)處理裝置改變了判峰參數(shù)(如半峰寬或斜率等)
|
重新設(shè)置
|
|
33
|
使用了老化不徹底的新色譜柱
|
再加長老化時(shí)間
|
|
34
|
應(yīng)用新柱時(shí)安裝尺寸不當(dāng)或插入檢測器部分的固定相在流失(分解)
|
||
35
|
帶催化反應(yīng)裝置用催化劑初用或失效引起
|
等待或更換
|
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36
|
錯用溶劑、樣品或被污染的注射器
|
更換
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2 儀器基線漂移大
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
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1
|
溫度、檢測器的工作狀態(tài)正在穩(wěn)定過程中(TCD方向不定、FID向基流小的方向、ECD向基流大的方向后再減小等)
|
等待
|
不同儀器不同要求,啟動到穩(wěn)定一般不超過2小時(shí),否則要另找原因
|
2
|
被污染的注樣器、色譜柱或檢測器正在不斷流出污染物
|
等待穩(wěn)定
|
通常要調(diào)整條件,使其加快流出時(shí)間
|
3
|
更換了不純潔氣源后
|
增加凈化器或更換干凈氣源
|
確認(rèn)氣源的干凈程度后更換
|
4
|
用了新的注射隔墊或新襯管(漂移由大而小)
|
等待
|
避免使用被污染的配件
|
5
|
樣品中高沸點(diǎn)的組分,在第二天或更長時(shí)間后流出色譜柱
|
清洗或再生色譜柱
|
漂移一般呈現(xiàn)饅頭型峰
|
6
|
色譜柱在失效過程中
|
正常,盡量消除氧等有害組分進(jìn)入色譜柱
|
極性比非極性柱可能性大
|
7
|
檢測器配用的電源放大器在漂移中
|
檢修
|
|
8
|
數(shù)據(jù)處理裝置在漂移中
|
檢修
|
|
9
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NPD的堿源加速失效中
|
檢修
|
一般使用溫度高時(shí),固定相流失會加速氣源的老化
|
10
|
TCD熱絲元件或FPD光電倍增管在老化失效過程中
|
不能滿足要求時(shí)更換
|
|
11
|
錯用樣品或被污染的注射器
|
核查更正
|
3 正常操作中基線出現(xiàn)無規(guī)則毛刺
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
高靈敏度下操作
|
正常
|
允許程度視分析要求而定
|
2
|
外界環(huán)境(如電壓、振動、電磁干擾)
|
視情況消除
|
注意連接線和電路板可能有接觸不良的地方
|
3
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TCD熱絲元件上有異物
|
吹洗或更換
|
|
4
|
TCD熱絲元件有瞬時(shí)接地現(xiàn)象
|
降低橋流或消除振動源
|
|
5
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FID火焰偏大跳動、氣體不純、有灰塵進(jìn)入火焰或噴嘴半堵塞
|
重新設(shè)置氣流比,更換新氣源或檢修噴嘴
|
|
6
|
FID、 FPD火焰太大
|
檢查糾正
|
重新設(shè)置氣流比
|
7
|
電路中某些繼電器頻繁動作
|
檢查消除
|
|
8
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離子化檢測器微電流放大器工作不穩(wěn)定
|
檢修
|
|
9
|
電源插頭接觸不良
|
重新拔插
|
|
10
|
有頻繁開關(guān)的設(shè)備共用一條電路
|
設(shè)法使儀器單獨(dú)使用一線
|
|
11
|
色譜柱流失物、固定相顆粒污染不定時(shí)進(jìn)入FID
|
檢查色譜柱出口堵塞物情況
|
|
12
|
檢測器輔助氣路管內(nèi)有異物或有漏氣點(diǎn)(氣阻突然變化)
|
消除
|
|
13
|
填充柱固定相或柱頭填充物松動
|
消除或更換新柱
|
4 正常操作中基線上出小峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
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|
1
|
TCD排氣管中有冷凝物
|
消除
|
|
2
|
TCD出口接著皂膜流量計(jì)
|
拿下
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|
3
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FID輔助氣調(diào)節(jié)閥工作不穩(wěn)
|
檢修
|
|
4
|
ECD排出口氣流波動
|
消除
|
|
5
|
公用電源上有大功率設(shè)備頻繁開與關(guān)
|
儀器最好單用一路電源
|
|
6
|
某個控溫區(qū)在意外調(diào)整(特別是柱箱)
|
檢查消除
|
|
7
|
氣體發(fā)生器控制開與關(guān)影響
|
更換較大發(fā)生量的發(fā)生器
|
|
8
|
樣品太臟出現(xiàn)不明組分峰
|
考慮增加樣品予處理步驟
|
|
9
|
屬于“鬼峰”
|
參見“鬼峰”可能出現(xiàn)原因和排除方法
|
5 基線呈波浪狀變化
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
溫度控制接近恒定在不斷調(diào)整中
|
正常,允許穩(wěn)定一段時(shí)間
|
常出現(xiàn)在高靈敏度儀器開始啟動走基線時(shí)
|
2
|
濃度型檢測器恒溫箱或柱箱控溫精度差
|
檢修(檢查有關(guān)蓋門是否蓋好與關(guān)嚴(yán))
|
易出現(xiàn)在高靈敏度操作時(shí)
|
3
|
使用空調(diào)或儀器放在空氣流動較大的地方
|
消除影響因素
|
|
4
|
鋼瓶或減壓閥失靈后在周期變化
|
檢修
|
|
5
|
載氣或輔助氣用調(diào)節(jié)閥在不停調(diào)節(jié)
|
檢查是供氣原因還是閥本身原因
|
|
6
|
雙氣路不能匹配補(bǔ)償
|
重新調(diào)節(jié)工作參數(shù)
|
特別出現(xiàn)在安裝了不同類型的色譜柱時(shí)
|
7
|
過溫保護(hù)設(shè)定的比控制的溫度低
|
重新設(shè)定
|
|
8
|
某控溫?zé)崦粼ㄣK電阻)有損傷
|
更換
|
6 基線突然向一個方向漂移
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
程序升溫過程
|
正常
|
一般超過150℃以后或靈敏度較高時(shí),較明顯
|
2
|
溫度失控(溫度不停的升高或降低)
|
排除失控原因
|
|
3
|
環(huán)境溫度變化大
|
正常
|
視儀器性能,一般在高靈敏度操作時(shí)易出現(xiàn)
|
4
|
TCD在高橋流下操作可能永久無法走直
|
允許情況下盡量適當(dāng)調(diào)低
|
|
5
|
凈化器失靈或檢測器受污染過程中
|
及時(shí)檢查再生凈化器或更換
|
|
6
|
更換新的氣源(純度低)后檢測器在污染過程中
|
增加凈化器或更換干凈氣源
|
|
7
|
控制閥失靈氣流在不斷變化
|
檢修
|
|
8
|
TCD熱絲元件在損傷過程中
|
某種情況屬正常
|
|
9
|
ECD基流正增加
|
正常
|
隨著氣路系統(tǒng)和檢測器不斷吹洗干凈
|
10
|
ECD基流下降
|
找出污染源并給以消除
|
污染可能來自氣路、色譜柱或樣品
|
11
|
FID無極化電壓
|
檢修
|
|
12
|
光電倍增管暗流不斷地變化
|
檢查供電高壓不穩(wěn)和光電倍增管是否在加速老化
|
|
13
|
NPD突然受污染再生過程中
|
等待
|
NPD恢復(fù)時(shí)間比FID長
|
14
|
進(jìn)了較臟樣品后
|
增加溫度加速吹洗過程或清洗更換有關(guān)零件
|
|
15
|
漏氣引起極性柱加速失效
|
檢漏
|
|
16
|
微電流放大器零點(diǎn)發(fā)生漫漂移
|
恢復(fù)過程中或凈電計(jì)電路正在受潮被污染
|
7 程序升溫分析基線上漂或出現(xiàn)不規(guī)則峰
特別是在靈敏度要求較高時(shí),程序升溫分析,柱流失明顯基線上漂(>150℃以后)或出現(xiàn)不規(guī)則峰實(shí)屬難免,特別是在靈敏度較高時(shí)。在實(shí)操中只能依據(jù)不同情況,盡量減小它對分析的干擾;
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
載氣純度低
|
有條件加凈化器以提高載氣純度
|
|
2
|
載氣流量在不斷減小
|
正常,毛細(xì)管柱分析必須用穩(wěn)壓閥調(diào)柱前壓,溫度不斷升高柱阻力增加,柱前壓不變流量減小
|
|
3
|
隔墊流失
|
沒有隔墊清洗氣路時(shí),要使用耐高溫低流失注射墊
|
|
4
|
色譜柱
|
盡可能選用交聯(lián)(鍵合)柱并把色譜柱充分老化。允許情況下盡可能選用非極性固定相或薄液膜柱
|
|
5
|
氣路密封性差
|
檢漏(要求比恒溫嚴(yán)格)
|
|
6
|
檢測器工作狀態(tài)
|
選擇較佳工作參數(shù)可減小程序升溫對檢測器工作狀態(tài)的影響
|
|
7
|
進(jìn)樣器和檢測器
|
再作程序升溫分析之前,最好把進(jìn)樣器和檢測器清洗一次
|
|
8
|
色譜分析方法
|
從色譜柱選擇入手,盡量降低程升的升溫速率和終溫,以改善升溫中的各種不利影響
|
|
9
|
走空白基線
|
使用色譜數(shù)據(jù)處理工作站時(shí),用程升基線和空白基線相差方法改善基線穩(wěn)定性,以增加檢測的靈敏渡和定性定量的精度
|
8 恒溫操作時(shí)基線出現(xiàn)不規(guī)則變化
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
儀器放置位置不當(dāng)
|
更正
|
使儀器遠(yuǎn)離熱源、風(fēng)口、空調(diào)和陽光等
|
2
|
地線干擾
|
拆除已把地線接在水管或不合格的地線上
|
某些情況寧可不接地
|
3
|
氣路系統(tǒng)突然有較大的漏氣
|
停機(jī)重新檢漏
|
操作靈敏度高時(shí)更明顯
|
4
|
有關(guān)控制閥失靈
|
檢修
|
|
5
|
檢測器突然被污染
|
消除污染源并等待一定時(shí)間
|
來自色譜柱或輔助氣路
|
6
|
檢測器安裝松動或密封性變差
|
重新安裝并檢漏
|
|
7
|
多次大量注射較臟樣品之后
|
長時(shí)間熱吹洗檢測系統(tǒng)或處理更換受污染部件
|
進(jìn)樣器、色譜柱、檢測器都可能被污染
|
8
|
色譜柱長期使用之后
|
定期活化和再生色譜柱
|
|
9
|
電源突然波動
|
必要時(shí)加裝穩(wěn)壓電源
|
|
10
|
放大器故障或輸入輸出信號線接觸不良
|
檢修
|
|
11
|
用錯樣品或被污染的注射器
|
更正
|
|
12
|
數(shù)據(jù)處理故障
|
檢修
|
9 出現(xiàn)負(fù)峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
數(shù)據(jù)處理輸入信號線接反
|
更正
|
|
2
|
TCD操作中某組分的熱傳導(dǎo)系數(shù)大于載氣熱傳導(dǎo)系數(shù)
|
正常
|
|
3
|
雙氣路系統(tǒng)中,進(jìn)樣搞錯位置或選擇極性開關(guān)沒有換相
|
更正
|
|
4
|
ECD操作中進(jìn)樣量太大
|
正常
|
檢測原理可能變成電離檢測器
|
5
|
FID選錯極化電壓的極性
|
更正
|
|
6
|
FID無極化電壓
|
正常
|
出峰可能正或負(fù)并同時(shí)伴隨靈敏度低
|
7
|
TCD用氮做載氣,組分濃度不同時(shí)
|
調(diào)整工作參數(shù)或進(jìn)樣量可改變峰方向
|
不同濃度N2的二元(多元)混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)是非線性的
|
8
|
FPD 和 NPD的氣流比不適宜
|
試驗(yàn)選擇較佳氣流比
|
|
9
|
載氣太臟或檢測器嚴(yán)重被污染時(shí)
|
更換載氣或清洗檢測器
|
|
10
|
操作FID使用電離效率低的溶劑
|
正常
|
如CS2
|
10 圓頂峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
進(jìn)樣量大或檢測器線性范圍窄
|
減少進(jìn)樣量或改善檢測器線性范圍
|
超出了檢測器的線性或動態(tài)范圍
|
2
|
載氣有大的漏氣致使流量減小
|
檢漏
|
|
3
|
汽化溫度低
|
適當(dāng)增加
|
|
4
|
氣體六通閥進(jìn)樣時(shí)死體積太大
|
減小安裝死體積
|
|
5
|
色譜柱汽化襯管沒有正確安裝
|
按要求安裝
|
|
6
|
沒有開補(bǔ)充氣或補(bǔ)充氣流量太小
|
重新設(shè)定補(bǔ)充氣
|
|
7
|
進(jìn)樣量大使色譜柱過載
|
減小進(jìn)樣量或增加分流比
|
|
8
|
初始設(shè)置色譜柱溫度低或載氣流量太小
|
實(shí)驗(yàn)糾正
|
|
9
|
數(shù)據(jù)處理判峰參數(shù)(半峰寬或斜率值偏大)
|
通過實(shí)驗(yàn)調(diào)整
|
11 圓平頂峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
超出了檢測器的動態(tài)范圍
|
減少了進(jìn)樣量
|
優(yōu)化操作條件,擴(kuò)大了線性范圍(如ECD)
|
2
|
離子化檢測器用微電流放大器輸入飽和
|
減少進(jìn)樣量或輸入量程
|
如從1×10-12A/mV降到 1×10-10A/mV
|
3
|
超出了色譜數(shù)據(jù)處理允許的輸入電壓范圍或輸入極性接錯
|
減小進(jìn)樣量或減小輸入信號
|
也可能沒有調(diào)零使工作范圍變窄
|
4
|
進(jìn)樣量大時(shí)色譜柱過載
|
減小進(jìn)樣量或增加分流比
|
12 出現(xiàn)“N”或 “W”峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
TCD用N2作載氣,不同濃度的二元(多元)混合氣的熱傳導(dǎo)系數(shù)非線性作用所致
|
改變進(jìn)樣量或調(diào)整載氣流量等操作參數(shù)有可能消除
|
|
2
|
TCD被嚴(yán)重污染
|
清洗檢測器
|
|
3
|
進(jìn)樣量與進(jìn)樣系統(tǒng)不匹配
|
試驗(yàn)選擇合適的進(jìn)樣量
|
|
4
|
使用的樣品溶劑與進(jìn)樣溫度和載氣流量不匹配
|
試驗(yàn)選擇最佳工作參數(shù)
|
|
5
|
TCD四個臂連接錯
|
重新連接
|
|
6
|
進(jìn)樣運(yùn)行后,沒有關(guān)閉自動調(diào)零功能
|
按儀器說明書操作
|
|
7
|
ECD過載或被污染嚴(yán)重
|
減小進(jìn)樣量或清洗檢測器
|
13 臺階峰
可能原因
|
排除方法
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說明
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1
|
TCD熱絲元件被鹵素、氧或硫等元素腐蝕
|
通H2高溫還原,無效時(shí)更換元件
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|
2
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載氣流量突變(漏氣或氣路某處氣阻變化)
|
檢修
|
|
3
|
流量調(diào)節(jié)閥性質(zhì)差
|
檢修或更換
|
|
4
|
用記錄儀時(shí)筆接線松動
|
重裝
|
|
5
|
信號接觸不良
|
重新連接
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14 色譜峰忽大忽小
可能原因
|
排除方法
|
說明
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1
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ECD或NPD在穩(wěn)定過程中
|
等待儀器穩(wěn)定后再進(jìn)樣
|
這兩種檢測器比其它常用檢測器穩(wěn)定時(shí)間長
|
2
|
樣品進(jìn)樣歧視或分流歧視大
|
核查進(jìn)樣技術(shù)和參數(shù)設(shè)計(jì)是否合理
|
|
3
|
溫度、柱前壓、流量等有異常
|
檢查分析參數(shù)并仔細(xì)檢漏
|
注意不同靈敏度要求相差甚大
|
4
|
不分流進(jìn)樣打開分流閥的時(shí)間不合適或不準(zhǔn)確
|
重新實(shí)驗(yàn)確定
|
|
5
|
色譜柱被污染或產(chǎn)生了活性
|
截取柱頭一段或清洗更換柱
|
分析活性樣品時(shí)特別注意
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6
|
進(jìn)樣汽化襯管被污染,活性組分被吸附或分解
|
清洗襯管、更換玻璃棉或襯管
|
同時(shí)檢查襯管密封性
|
7
|
進(jìn)樣時(shí)出現(xiàn)樣品蒸汽倒灌
|
減少進(jìn)樣量、更換大容積襯管或適當(dāng)降低汽化溫度
|
也可以提高進(jìn)樣時(shí)的柱前壓
|
8
|
樣品本身濃度變化
|
核查驗(yàn)證樣品
|
可能蒸發(fā)、分解或樣品預(yù)處理不當(dāng)
|
9
|
進(jìn)樣量不重復(fù)
|
注射針檢漏或更換新注射針
|
沒有掌握進(jìn)樣技術(shù)和技巧
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10
|
檢測器在非線性段工作
|
減少進(jìn)樣量或降低儀器輸入量程
|
首先知道用檢測器允許的最大進(jìn)樣量
|
11
|
FID、NPD的電場偏低或不穩(wěn)定
|
調(diào)高極化電壓或檢修電源
|
|
12
|
存在共流出組分峰
|
提高柱效把有關(guān)組分分開
|
15 “鬼峰”(怪峰、多余峰、記憶峰)
① “鬼峰”的寬度(保留時(shí)間)和樣品峰接近,污染物可能和樣品同時(shí)進(jìn)入色譜柱,污染物可能源于進(jìn)樣器或樣品本身被污染(注射器、溶劑、樣品瓶或瓶蓋等),可用進(jìn)僅有溶劑的空白樣品排除污染源;
② 鬼峰的峰寬比樣品峰大得多,污染物可能再進(jìn)樣之前已存在色譜柱中,或者說污染物在上一次分析結(jié)束時(shí),已存在色譜柱中,在下一次分析時(shí)流出。因峰很寬,有可能是由多次進(jìn)樣累積而成的,在此情況下峰一般峰呈現(xiàn)饅頭形,且常常隨著基線的漂移而出現(xiàn)。
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
載氣純度低,凈化器失效固定相與載氣污染物發(fā)生反應(yīng)
|
更換載氣或活化凈化器
|
|
2
|
注射墊在溫度高時(shí)分解流失
|
采用耐高溫墊或適當(dāng)降低進(jìn)樣口溫度
|
事前對隔墊進(jìn)行老化處理或打開墊清洗氣路
|
3
|
上一次進(jìn)樣中的高沸點(diǎn)雜質(zhì)的自然流出
|
有必要進(jìn)一步進(jìn)行樣品預(yù)處理
|
|
4
|
襯管、柱頭沉積了高沸點(diǎn)污染物,程序升溫時(shí)流出
|
提高樣品純度清洗被污染部分
|
在程序升溫時(shí)增加終溫溫度或時(shí)間,是減小或消除上述鬼峰的有效方法;也可以每天或定時(shí)設(shè)置溫度程序進(jìn)行儀器烘烤,可有效地把保留性強(qiáng)的物質(zhì)趕出進(jìn)樣口和色譜柱;
③ 汽化溫度過高,樣品組分可能分解,每次降低20℃進(jìn)樣,觀察出峰情況,確定合適溫度;
④ 樣品在汽化襯管中停留太久,加大載氣或增加分流比;
⑤ 樣品在襯管中有吸附或分解,選用去活襯管或襯管失活需再處理;
⑥ 襯管中填充玻璃棉有活性或失活或填充玻璃棉不適合某些樣品分析,選用無填充物襯管或再去活處理;
⑦ 樣品本身有組分不穩(wěn)定,考慮增加預(yù)處理樣品程序;
⑧ 產(chǎn)生“鬼峰”的次要原因:
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
襯管密封件被污染,材料欠佳有流失
|
更換新的高質(zhì)量襯管密封件
|
|
2
|
柱頭堵塞的玻璃棉有活性
|
更換新的無活性玻璃棉
|
|
3
|
氣路系統(tǒng)漏氣
|
檢漏
|
尤其進(jìn)樣器和檢測器兩處影響較大
|
4
|
控溫或放大器電源波動
|
儀器電源不穩(wěn)
|
|
5
|
樣品中有空氣(氧)
|
消除
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|
6
|
樣品中存在交叉污染,用錯注射針或樣品等
|
核查并消除
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16 出峰后基線下移
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
色譜柱被污染
|
再生、清洗或更換色譜柱
|
|
2
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檢測器被污染
|
清洗檢測器
|
|
3
|
進(jìn)樣量大改變了工作狀態(tài)
|
重復(fù)進(jìn)樣多次可能變好
|
當(dāng)系統(tǒng)被污染,進(jìn)大量溶劑減小了污染程度
|
4
|
流量變化(漏氣或氣阻發(fā)生變化)
|
維修
|
|
5
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FID噴嘴半堵塞
|
消除
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|
6
|
NPD堿源被污染
|
再生堿源或更換
|
|
7
|
FID、 FPD、 NPD氣流比離較佳狀態(tài)太大
|
重新調(diào)整
|
|
8
|
有些樣品組分和固定相發(fā)生了反應(yīng)
|
更換不同性能的色譜柱
|
|
9
|
FID火焰熄滅
|
重新點(diǎn)燃
|
17 峰拖尾
① 在氣相色譜分析中引起峰托尾的原因包括以下幾種:
a. 汽化室的結(jié)構(gòu)不合理;
b. 柱溫或汽化室溫度設(shè)置不合理;
c. 進(jìn)樣量和進(jìn)樣器結(jié)構(gòu)不匹配偏大;
d. 進(jìn)樣技術(shù)欠佳;
e. 由于:固定液和擔(dān)體之間的邊界、金屬柱壁、柱兩端的連接管壁等的表面對溶質(zhì)分子的非線性吸附,特別是極性溶質(zhì),在非極性柱上分離時(shí)。
不難看出第五點(diǎn)在色譜分析日常工作中應(yīng)引起注意的,為了防止峰拖尾可考慮采取以下措施:對色譜柱內(nèi)壁進(jìn)行脫活處理;色譜柱進(jìn)出口連接,盡量實(shí)現(xiàn)玻璃化并進(jìn)行硅烷化處理,若使用金屬連接管可進(jìn)行去活處理;色譜柱固定相兩端柱塞用玻璃棉要硅烷化處理或改用石英棉取代。
② 由于峰拖尾情況不同,首先確定是全部峰拖尾還是活性樣品峰拖尾,視不同情況尋出具體原因。
a. 所有峰都拖尾:
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
色譜柱安裝不正確
|
重新安裝色譜柱
|
|
2
|
分流比太小
|
適當(dāng)調(diào)大分流比
|
|
3
|
汽化襯管被污染(內(nèi)有注射墊碎屑或其他固體顆粒)
|
清洗汽化襯管或更換
|
|
4
|
色譜柱被嚴(yán)重污染,可能存在固體顆粒污染物與樣品作用
|
清洗再生或更換色譜柱
|
|
5
|
進(jìn)樣量大
|
減少進(jìn)樣量或稀釋樣品
|
|
6
|
注射墊處漏氣
|
檢漏或更換注射墊
|
|
7
|
補(bǔ)充氣未開或偏低
|
打開補(bǔ)充氣按說明書調(diào)整
|
|
8
|
色譜柱使用溫度偏低或接近失效
|
提高色譜柱溫度或更換色譜柱
|
|
9
|
FID無極化電壓(或偏低)
|
檢修極化電源
|
此時(shí)伴隨有靈敏度偏低現(xiàn)象
|
10
|
進(jìn)樣技術(shù)欠佳
|
改進(jìn)
|
速度不合適
|
b. 活性樣品組分拖尾(隨保留時(shí)間增加拖尾加。
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
使用了活性大的汽化襯管或色譜柱
|
去活處理或更換
|
|
2
|
襯管或色譜柱去活處理失效
|
重新把襯管或色譜柱去活處理
|
|
3
|
襯管或色譜柱被污染,樣品與污染物發(fā)生作用
|
清洗或更換襯管,再生或更換色譜柱
|
|
4
|
用錯了汽化襯管和管中填充物
|
從新選用或改變襯管中的填充物
|
c. 保留時(shí)間短的峰拖尾
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
可能產(chǎn)生溶劑效應(yīng)
|
改變分析參數(shù)或重選溶劑
|
|
2
|
色譜柱頭安裝不合理(死體積大)
|
重新安裝色譜柱
|
|
3
|
注射隔墊漏氣
|
重新漏氣或更換隔墊
|
|
4
|
進(jìn)樣速度偏慢或欠佳
|
加快進(jìn)樣速度或改善進(jìn)樣技術(shù)
|
d. 保留時(shí)間長的峰拖尾
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
汽化溫度偏低
|
升高汽化溫度
|
|
2
|
色譜柱存在污染物;
|
再生或清洗色譜柱
|
|
3
|
色譜柱兩端連接區(qū)域存在冷卻區(qū)域
|
檢查消除
|
e. 其他原因
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
峰前陡峰而后拖尾峰,通常意味著非線性等溫分配
|
色譜柱(固定相)和樣品不匹配,需要更換不同極性的色譜柱;
|
|
2
|
氣-固色譜柱過載或使用程序升溫技術(shù)
|
正常
|
|
3
|
個別峰拖尾可能和鬼峰共同流出
|
消除鬼峰或增加分離度
|
|
4
|
配有催化反應(yīng)器時(shí),催化劑接近失效
|
有必要更換催化劑
|
|
5
|
樣品化合物性質(zhì)不適合直接進(jìn)樣
|
應(yīng)考慮樣品前處理
|
18 峰裂分( 單組分出現(xiàn)雙峰)
① 所有峰裂分
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
色譜柱安裝錯誤或柱頭進(jìn)樣時(shí),樣品未注射到柱頭內(nèi)
|
重新安裝色譜柱,確保樣品注射到柱頭
|
|
2
|
注射針有記憶(即樣品在針中有部分殘留)
|
清洗注射針或更換新注射針
|
|
3
|
溶劑與樣品不匹配或使用混合溶劑;
|
極性樣品用極性溶劑且沸點(diǎn)相差不宜太大調(diào)整使用的溶劑
|
|
4
|
汽化溫度偏低
|
升高汽化溫度
|
|
5
|
程序升溫操作時(shí)色譜柱初始溫度選擇不合適
|
重新選擇色譜柱初始溫度
|
|
6
|
進(jìn)樣時(shí)推進(jìn)方法不對
|
改善進(jìn)樣時(shí)的推進(jìn)方法
|
② 部分峰裂分
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
有的樣品組分在汽化襯管中分解
|
降低汽化溫度或改用柱頭進(jìn)樣;
|
也不能太低,否則峰展寬或拖尾
|
2
|
樣品和溶劑不匹配或使用了混合溶劑
|
重新選擇溶劑
|
|
3
|
進(jìn)樣技術(shù)差峰裂分
|
改進(jìn)進(jìn)樣技術(shù)
|
峰裂分表現(xiàn)為隨保留時(shí)間增加而減弱
|
③ 其他原因
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
汽化襯 汽化襯管安裝死體積大
|
重新安裝汽化襯管
|
|
2
|
襯管溶積小進(jìn)樣量大出現(xiàn)蒸汽倒罐
|
減小進(jìn)樣量或重新選汽化襯管
|
|
3
|
檢測器過載
|
減小進(jìn)樣量或放大器量程
|
超出了響應(yīng)范圍
|
4
|
柱溫嚴(yán)重波動
|
檢修
|
19 前沿峰(舌頭峰)
雖然氣相色譜儀汽化室設(shè)計(jì)不合理也是一種出現(xiàn)“前沿峰”的主要原因。但在日常操作中“前沿峰”的主要原因還還可能有以下兩種:
① 進(jìn)樣量太大引起色譜柱過載,通常認(rèn)為:當(dāng)樣品在固定相濃度增加速率高于它在氣相濃度的增加速率,會使吸附等控溫線為凹形時(shí),在色譜圖上會產(chǎn)生伸舌頭峰。減小進(jìn)樣量上述情況便可消除,但對于低負(fù)載填充柱,減少進(jìn)樣量仍出現(xiàn)不對稱峰時(shí),用稀溶液形式進(jìn)樣可以克服柱過載問題;
② 樣品中某些高沸點(diǎn)組分沒有迅速氣化也是產(chǎn)生伸舌頭峰的一種原因。理論上講注入樣品后在有限的時(shí)間內(nèi)各組分應(yīng)瞬間汽化,當(dāng)樣品沸點(diǎn)范圍較寬時(shí),后出峰并非完全如此,這時(shí)在色譜圖上就出現(xiàn)前沿峰,增加汽化溫度,提高汽化速率是一般的解決辦法,但過高的汽化溫度可能產(chǎn)生兩個問題:
(1) 遇到不穩(wěn)定化合物會造成熱分解現(xiàn)象,會在色譜圖上出現(xiàn)迅速溶出的“鬼峰”;
(2) 特別是采用柱頭進(jìn)樣時(shí),過高的氣化溫度,會使固定液過度流失,而產(chǎn)生一個具有催化反應(yīng)的表面,因此采用約1%的稀溶液效果更好。
③ 前沿峰的程度不同引起原因不同,除上述原因外,也可以通過實(shí)驗(yàn)來確定排除。
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
色譜柱安裝不合格
|
重新安裝色譜柱
|
|
2
|
汽化溫度偏低
|
適當(dāng)調(diào)高汽化溫度
|
|
3
|
柱外效應(yīng)大
|
增加載氣流量或重新安裝色譜柱
|
|
4
|
汽化襯管被污染對樣品產(chǎn)生吸附作用
|
清洗或更換汽化襯管
|
|
5
|
色譜柱被污染或使用溫度低
|
適當(dāng)增加柱溫或再生色譜柱
|
|
6
|
峰前出現(xiàn)了鬼峰
|
消除鬼峰或增加分離度
|
|
7
|
懷疑進(jìn)樣量大
|
稀釋樣品10倍、選用厚液膜同類色譜柱、減小進(jìn)樣量或增加分流比等
|
|
8
|
有共流出峰
|
試用不同的極性或有選擇性的色譜柱,判斷有無其共流出峰
|
|
9
|
進(jìn)樣速度偏慢使早出峰出現(xiàn)前延
|
加快進(jìn)樣速度
|
20 峰分離度變差
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
色譜柱重新安裝的不合格
|
按說明書要求尺寸安裝
|
|
2
|
更換了不純氣源或凈化器污物流失
|
更換純度高的氣源或加深凈化作用,再生凈化器
|
|
3
|
色譜柱被污染
|
定時(shí)清洗或再生
|
|
4
|
色譜柱固定液流失或分解致使柱效下降
|
更換新柱
|
|
5
|
誤調(diào)整了分析條件(載氣、流速、柱溫度等)
|
重新確定最佳分離條件
|
色譜分析方法允許微細(xì)調(diào)整
|
6
|
樣品濃度變化太大而進(jìn)樣量不變
|
減小進(jìn)樣量,有必要稀釋樣品
|
|
7
|
進(jìn)樣量太大色譜柱過載
|
減少進(jìn)樣量
|
|
8
|
進(jìn)樣系統(tǒng)被污染
|
清洗進(jìn)樣系統(tǒng)
|
|
9
|
檢測器工作狀態(tài),ECD漏氣或FID氣流欠佳
|
盡量使檢測器工作在最佳狀態(tài)附近
|
|
10
|
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判斷軟性能差或參數(shù)設(shè)置欠佳
|
重新調(diào)整判峰參數(shù)或更換一臺性能較佳數(shù)據(jù)處理機(jī)
|
|
11
|
進(jìn)樣技術(shù)欠佳
|
不斷改進(jìn)
|
21 帶毛刺的峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
儀器沒有穩(wěn)定下來,噪聲大于要求
|
等待一段時(shí)間
|
|
2
|
FID極化電壓不穩(wěn)定
|
檢修
|
|
3
|
環(huán)境因素干擾
|
實(shí)驗(yàn)消除
|
|
4
|
儀器穩(wěn)定性變差
|
檢修
|
參見噪聲大的原因和排除
|
5
|
信號線或電路板接觸不良
|
檢修
|
|
6
|
儀器用錯量程和衰減
|
更正
|
|
7
|
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站判峰(半峰寬和斜率)設(shè)置大小
|
重新設(shè)置判峰參數(shù)
|
|
8
|
數(shù)據(jù)處理機(jī)或工作站本身基線不穩(wěn)定
|
檢修
|
22 色譜數(shù)據(jù)處理工作站觀察到矩形峰
可能原因
|
排除方法
|
說明
|
|
1
|
儀器輸出負(fù)極性信號工作站不能處理
|
調(diào)節(jié)儀器使其輸出正信號
|
|
2
|
零點(diǎn)偏高沒有校正
|
工作站調(diào)零
|
|
3
|
工作站量程設(shè)置太大無法判斷基線位置和情況
|
減小量程觀察
|
|
4
|
輸入信號極性和工作站本身零點(diǎn)不匹配
|
改變極性重新調(diào)零
|
以上22種情況,即為今天我們總結(jié)的氣相色譜儀常見的基線異常現(xiàn)象,希望對小伙伴們使用氣相色譜儀的過程遇到的困難有所幫助。